A4931/GC4931的堵轉(zhuǎn)檢測(cè)功能
2021/3/10 14:09:34 點(diǎn)擊：
A4931的國(guó)產(chǎn)替代芯片GC4931的堵轉(zhuǎn)檢測(cè)功能
芯片以下兩項(xiàng)條件任意一項(xiàng)異常都認(rèn)為是堵轉(zhuǎn)：
1. FG1 腳信號(hào)不再持續(xù)變化
2. 芯片的控制時(shí)序不再依次變化，而是在兩個(gè)狀態(tài)之間來回切換。
當(dāng)檢測(cè)到堵轉(zhuǎn)條件持續(xù)時(shí)間超過 tlock時(shí)，輸出驅(qū)動(dòng)會(huì)關(guān)閉，并且這個(gè)堵轉(zhuǎn)條件將被鎖定，
當(dāng)出現(xiàn)下述情況時(shí)，解除才能鎖定：
1. DIR 的上升或者下降沿
2. ENB 腳持續(xù)為高超過 tlock/2
3. VBB 電壓低壓檢測(cè)消除（重新上電）
tlock 由 CLD 腳外接電容決定。 CLD 腳為 1.67V 峰峰值的三角波振蕩器的外部電容腳， tlock
的計(jì)算公式如下：
當(dāng) CLD 短接到地時(shí)，堵轉(zhuǎn)保護(hù)功能關(guān)閉。
當(dāng)剎車模式時(shí)，堵轉(zhuǎn)檢測(cè)計(jì)數(shù)器關(guān)閉。
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